江西pl检测仪器

时间:2020年04月03日 来源:

隐裂、热斑、PID效应,是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺点,通俗的讲,就是一些肉眼不可见的细微破裂(micro-crack)。晶硅组件由于其自身晶体结构的特性,十分容易发生破裂。

在晶体硅组件生产的工艺流程中,许多环节都有可能造成电池片隐裂。隐裂产生的根本原因,可归纳为硅片上产生了机械应力或热应力。现在为了降低成本,晶硅电池片向越来越薄的方向发展,降低了电池片防止机械破坏的能力,更容易产生隐裂。 欧普泰AI-EL一人多机系统,人工智能检测缺点,节约成本,提高识别准确度,减低返修率,欢迎垂询我司。江西pl检测仪器

电池片产生的电流主要靠表面相互垂直的主栅线和细栅线收集和导出。因此,当隐裂(多为平行于主栅线的隐裂)导致细栅线断裂时,电流将无法被有效输送至主栅线,从而导致电池片部分乃至整片失效,还可能造成碎片、热斑等,同时引起组件的功率衰减。

垂直于主栅线的隐裂几乎不对细栅线造成影响,因此造成电池片失效的面积几乎为零。

而正处于快速发展的薄膜太阳能电池,由于其材料、结构特性,不存在隐裂的问题。同时其表面通过一层透明导电薄膜收集和传输电流,即使电池片有小的瑕疵造成导电膜破裂,也不会造成电池大面积失效。

有研究显示,组件中如果某个电池的失效面积在8%以内,则对组件的功率影响不大,并且组件中2/3的斜条纹隐裂对组件的功率没有影响。所以说,虽然隐裂是晶硅电池常见的问题,但也不必过度担心。 陕西pl检测设备价格欧普泰AI-EL一人多机系统,人工智能检测,降低成本,提高识别准确度,降低返修率,如需,欢迎致电我司。

  扩散是制备晶体Si太阳电池的关键工艺步骤,其直接决定着电池的光电转换效率。扩散的要求是获得适合于太阳电池p-n结需要的结深和扩散层的方块电阻,当p-n结较浅时,电池短波响应好,但同时浅结会引起串联电阻增加。结深过深,死层比较明显,高扩散浓度会引起重掺杂效应,使电池开路电压和短路电流均下降。在利用丝网印刷制电极的电池制作中,考虑到各个因素,太阳电池的结深一般控制在0.3~0.5μm,方块电阻在40~50Ω/□,选择的热扩散方法为液态源扩散法。Si片单片方块电阻的均匀性是衡量高温扩散效果的重要指标。方块电阻均匀性的提高使得电池的p-n结平整性变好,能够提高光生载流子的收集概率,增加短路电流,进而提高电池的转换效率。



光伏组件功率衰减是指随着光照时间的增长,组件输出功率逐渐下降的现象。光伏组件的功率衰减现象大致可分为三类:

一类,由于破坏性因素导致的组件功率衰减;

第二类,组件初始的光致衰减;

第三类,组件的老化衰减。

其中,类是在光伏组件安装过程中可控制的衰减,如加强光伏组件卸车、倒运、安装质量控制可降低组件电池片隐裂、碎裂出现的概率等。

第二类和第三类是光伏组件生产过程中亟需解决的工艺问题。光伏组件功率衰减测试可通过光伏组件 I-V 特性曲线测试仪完成。 欧普泰AI-EL一人多机系统,人工智能检测缺点,节约成本,提高辨识准确率,降低返修率,欢迎垂询我司。

 目前行业内主要采用的组件测试标准有:《IEC61215:2005地面用晶体硅光伏组件的设计鉴定和定型》、《IEC61730-1:2004光伏组件安全鉴定之结构要求》、《IEC61730-2:2004光伏组件安全鉴定之实验要求》和《UL1703:2004平面光伏模块及平板标准》,而这些标准只是针对单块组件,并且模拟的户外环境是实际户外环境的单个因素或两三个因素,并不能的模拟组件户外25年的发电情况。大家是否注意到,上述提及的测试标准没有一份测试标准申明或注明通过了本标准的所有项目即证明了组件有25年的使用寿命。欧普泰AI-EL一人多机系统,人工智能检测缺点,降低成本,提高辨识准确率,减低返修率,欢迎垂询我司。人工智能检测仪器

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电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时,会引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个组串的功率输出。

一是系统设计原因:光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的,这就造成在单个组件和边框之间形成偏压,组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件,通过有变压器的逆变器负极接地,消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生,但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;

二是光伏组件原因:高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流,封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。

三是电池片原因:电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中,由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。 江西pl检测仪器

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