上海组件检测系统

隐裂、热斑、PID效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺点，通俗的讲，就是一些肉眼不可见的细微破裂(micro-crack)。晶硅组件由于其自身晶体结构的特性，十分容易发生破裂。

在晶体硅组件生产的工艺流程中，许多环节都有可能造成电池片隐裂。隐裂产生的根本原因，可归纳为硅片上产生了机械应力或热应力。现在为了降低成本，晶硅电池片向越来越薄的方向发展，降低了电池片防止机械破坏的能力，更容易产生隐裂。 欧普泰PL、EL检测设备，电池片、电池串、组件检测准确性与速度均达到或超过国内外同类设备水平，领跑行业。上海组件检测系统

隐裂是指电池片中出现细小裂纹，电池片的隐裂会加速电池片功率衰减，影响组件的正常使用寿命，同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能导致开路性破坏，隐裂还可能会导致热斑效应。隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的，组件受力不均匀，或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。

光伏组件在出厂前会进行EL成像检测，所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺点。EL检测仪能够检测光伏电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。 山东检测仪器欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节约成本，提高辨识准确率，降低返修率，欢迎致电我司。

光伏组件性能的检测

光伏电站运行一段时间后，需要进行检测，来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的，主要包含以下项目。

1、功率衰减测试

光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少？25年太久，现在可能还没有运行这么长时间的电站。按国家标准，晶硅电池2年的衰减率应该在3.2%以内。但目前这个数据还真的很难说，原因有三：

1）光伏组件出场功率是用实验室标准光源和测试环境标定的，但似乎国内不同厂家的标准光源是存在一定的差异的。那在A厂标定的250W的组件，到了B厂，可能就是245W的组件的。

2）现场检测所用的仪器精确度较差，据说5%以内的误差都是可以接受的。用误差5%的仪器，测2%（1年）的衰减，难度有些大，结果也令人怀疑。

裂隙:电池裂隙的形成有许多因素。可能是各种各样的外力因素，也可能是由于环境和电池本身的缺点造成的裂纹甚至碎片。因此，很难找到统一的法律或得到明确的答案。裂纹片的成像特征是在EL试验下裂纹产生明显的明暗差异的线(黑线)。电池破裂的可能后果是部分损坏或失去电流。

通过以上分析可知，自动EL测试仪通过EL成像可以快速、准确地检测到太阳能电池和组件的裂纹等缺点。EL缺点探测器采用进口制冷红外摄像机，图像采集清晰准确。独特的镜面反射设计，封闭的光路设计，有效适应不同的工作环境，并具有全功能的PC软件支持，能满足客户不同的需求。 欧普泰PL、EL检测设备，电池片、电池串、组件检测准确率和速度均达到或超出国内外同类设备水平，**行业。

EL测试仪全称为电致发光(英文Electroluminescent)测试仪，是一种太阳能电池或电池组件的内部缺点检测设备。常用于检测太阳能电池组件的内部缺点、隐裂、碎片、虚焊、断栅以及不同转换效率单片电池异常现象。EL功能特点进口关键部件：采用原装进口红外相机，保证了设备的整体品质。·全封闭式光路设计：封闭式光路设计可保证设备长期稳定运，更好的适应不同的使用环境·强大**测试软件：全中文显示界面，可自动手动扫描图形码编号并按编码进行文件保存。可放大扫描图像显示细节，方便判断。欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节约成本，提高识别准确度，降低返修率，欢迎致电我司。上海组件检测系统

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太阳能电池有哪些缺点呢?

黑心片:EL照片反射的黑心膜形成的主要原因是该区域没有发出1150红外光，导致黑心片在红外照片中反射。这种黑色芯板是由于在中心部分的高电阻率而形成的。它与硅衬底的少数载流子浓度有关。

黑色电影:在生产过程中,由于反复强调缩短的定向凝固时间晶体,潜热释放融化和温度场温度梯度不匹配,晶体生长速率加快,过度的热应力引起的内部位错硅片。

短路黑片:由单根线焊接元件引起的短路;元器件层压前电池电池效率低下所形成的短路黑膜;边缘明亮的黑色薄膜称为非短路黑色薄膜。主要是由于n型芯片在硅片的错误使用中，导致PN结，短路电池无法提供外部电源，输出功率和IV测试曲线也降低。导致整个元件功率和填充系数受到影响。

电池栅极:电池栅极是由于太阳能电池丝网印刷过程中参数设置不当或丝网印刷质量不合格造成的。轻微的栅极断口对元件来说不是很重要，但如果栅极严重，影响单片电池的电流会影响整个元件的电气性能。 上海组件检测系统

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