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时间:2020年05月24日 来源:

近几年,晶硅组件厂家为了降低成本,晶硅组件越做越薄,从而降低了电池片防止机械破坏的能力,从而导致了在运输和安装过程中组件隐裂的产生,下面让我们详细的了解下组件的隐裂。

什么是光伏组件隐裂?

隐裂是指电池片(组件)受到较大的机械或热应力时,可能在电池单元产生肉眼不易察觉的隐性裂纹。

根据电池片隐裂的形状,可分为5类:树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。

电池片产生的电流要依靠“表面的主栅线及垂直于主栅线的细栅线”搜集和导出。当隐裂导致细栅线断裂时,细栅线无法将收集的电流输送到主栅线,将会导致电池片部分甚至全部失效。 欧普泰PL、EL检测设备,电池片、电池串、组件检测准确度与速率均达到或超出国内外同类设备水平,领跑行业。宁夏人工智能检测仪价格

电池片外观缺点在线自动识别检测系统  在对电池片进行处理的过程中,很容易导致其断栅、缺角、色差、脏污、水纹等缺点,如这些缺点不能即时快速的被发现,将会影响到太阳能电池组件的质量。 运用机器视觉的原理,对生产完毕的电池片进行实时图像摄取,并通过专门开发的图像处理分析识别软件对图像进行分析,判断电池片外观是否有缺点。如检测到有缺点,就会通过声、光报警提示操作人员及时处理或由输送系统自动筛选。同时缺点电池片的图像被存储到计算机,供事后查询、分析。天津AI检测仪价格欧普泰PL、EL检测设备,电池片、电池串、组件检测准确率与速度均达到或高于国内外同类设备水平,领跑行业。

基于上述原因,我们可以看出对电池片功能影响比较大的,是平行于主栅线的隐裂。根据研究结果,50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。

45°倾斜裂纹的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。

垂直于主栅线的裂纹几乎不影响细栅线,因此造成电池片失效的面积几乎为零。

相比于晶硅电池表面的栅线,薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜,所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。

有研究显示,组件隐裂严重时,会导致组件功率的损失,但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小,而裂片对组件功率损失非常大;老化试验,即组件在工作或非工作的情况下,温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧;组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。

发光成像方法为太阳电池缺点检测提供了一种非常好的解决方案,这种检测技术使用方便,类似的二维化面检测。本文讨论的是光致发光技术在检测晶体Si太阳电池上的应用。光致发光(photoluminescence,PL)检测过程大致包括激光被样品吸收、能量传递、光发射及CCD成像四个阶段。通常利用激光作为激发光源,提供一定能量的光子,Si片中处于基态的电子在吸收这些光子后而进入激发态,处于激发态的电子属于亚稳态,在短时间内会回到基态,并发出以1150 nm的红外光为波峰的荧光。利用冷却的照相机镜头进行感光,将图像通过计算机显示出来。发光的强度与本位置的非平衡少数载流子的密度成正比,而缺点处会成为少数载流子的强复合中心,因此该区域的少数载流子密度变小导致荧光效应减弱,在图像上表现出来就成为暗色的点、线,或一定的区域,而在电池片内复合较少的区域则表现为比较亮的区域。因此,通过观察光致发光成像能够判断Si片或电池片是否存在缺点。欧普泰PL、EL检测设备,电池片、电池串、组件检测准确度与速度均达到或超过国内外同类设备水平,领跑行业。

光伏组件便携式EL检测仪产品简介:

利用光伏组件EL发光原理研发的可检测太阳能组件内部隐裂,通过检测确保光伏组件的发电效率,构造简单,操作方便,便于携带,适用于流动性用户现场检测,无线取景远程控制采用美国进口芯片,搭载多平台APP可远程控制。为检测太阳能电站组件及来料太阳能电池板的专属移动式检测设备。特别适合光伏发电厂现在安装前测试使用,和太阳能电池板经销商的进货及出货检查使用!主动了解进货面板问题及时发现隐裂避免损失。 欧普泰AI-EL一人多机系统,人工智能检测缺点,节省成本,提高识别准确率,减低返修率,欢迎致电我司。宁夏检测系统厂家

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EL(Electroluminescence,电致发光)是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。

电池片的部分是半导体PN结,在没有其它激励(例如光照、电压、温度)的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。

如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区,与N区的电子复合),复合之后以光的形式辅射出去,即电致发光。


当被施加正向偏压之后,晶体硅电池就会发光,波长1100nm左右,属于红外波段,肉眼观测不到。因此,在进行EL测试时,需利用CCD相机辅助捕捉这些光子,然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。

给晶硅组件施加电压后,所激发出的电子和空穴复合的数量越多,其发射出的光子也就越多,所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗,说明该处产生的电子和空穴数量较少,该处存在缺点;如果有的区域完全是暗的,该处没有发生电子和空穴的复合,也或者是所发光被其它障碍所遮挡,无法检测到信号。



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