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X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X射线满足布拉格(W.L.Bragg)方程:2dsinθ=nλ式中:λ是X射线的波长;θ是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。波长λ可用已知的X射线衍射角测定,进而求得面间隔,即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照,即可确定试样结晶的物质结构,此即定性分析。从衍射X射线强度的比较,可进行定量分析。X射线衍射仪特征X射线及其衍射X射线是一种波长很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质。江苏奥林巴斯BTX小型台式XRD代理哪家专业
X射线衍射仪的用途: (1)当材料由多种结晶成分组成,需区分各成分所占比例,可使用XRD物相鉴定功能,分析各结晶相的比例。 (2)很多材料的性能由结晶程度决定,可使用XRD结晶度分析,确定材料的结晶程度。 (3)新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标。 (4)产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象,可能涉及微观应力方面影响,使用XRD可以快捷测定微观应力。 (5)纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。 X射线衍射仪使用注意事项: (1)固体样品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必须平整,可以用几块粘贴一起。 (2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常,需提供测试方向。 (3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。 (4)粉末样品要求磨成320目的粒度,直径约40微米,重量大于5g。浙江奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪费用上海泽权衍射仪品质保障。欢迎来电咨询上海泽权!
当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每个θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后,利用布拉格公式即可确定点阵平面间距d、晶胞大小和晶胞类型。利用X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础,测定衍射线的强度,就可进一步确定晶胞内原子的排布。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射线束的波长λ作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件,故选用连续X射线束。再把结构已知晶体(称为分析晶体)用来作测定,则在获得其衍射线方向θ后,便可计算X射线的波长λ,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。
分析电子衍射与x射线衍射有何异同: 相同点是两者都是可以把晶体看做一个三维的光栅,对不同位置的原子散射的波进行叠加求和,反映的晶格的对称性信息;不同点是电子衍射是电子受到在空间上周期性变化势场的散射,电子与样品的相互作用往往比x射线衍射与样品作用要强烈一些,往往不止发生一次散射,即要考虑动力学效应,x射线是与核外电子发生作用,与核外的电子分布情况相关。实用角度的答案,在确定晶体对称性上,通常是用x射线来定的,因为动力学效应很弱,不会出现本来消光的斑点位置因为多次散射的原因又出现亮斑的情况,因此便于分析,另外很重要的一个原因是x射线的制样更加容易。X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉。
X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,主要部件包括4部分。 (1)高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 (2)样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。 (3)射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 (4)衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。寻找衍射仪的专业生产厂家。欢迎来电咨询上海泽权!安庆衍射仪销售代理
X射线粉末衍射仪适用性很广,通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料。江苏奥林巴斯BTX小型台式XRD代理哪家专业
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。普遍应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域。基本构造:X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。高稳定度X射线源:提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。江苏奥林巴斯BTX小型台式XRD代理哪家专业
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