MSA FACTORYPA6010-PCC10A加热板一级代理
晶圆加热盘一般是用于承载、加热晶圆的圆盘,所以也有人称它为晶圆加热器。因为使用环境特殊,制作半导体晶圆托盘的材料需要具备许多条件:耐高温能力强、耐磨性能高……,因为是用于高温环境下,导热系数也是越高越好。金属的耐温性没有非金属材料好,非金属导热性没有金属强,但是由于金属在高温下会融化,便只能从非金属材料中寻找导热性强的材料。终于在工业陶瓷中找到了较为合适的材料——氮化铝陶瓷。氮化铝的化学式为AlN,化学组成AI约占,N约占。它的粉体为一般是白色或灰白色,单晶状态下则是无色透明的,常压下的升华分解温度达到2450℃。氮化铝陶瓷导热率在170~210W/()之间,而单晶体更可高达275W/()以上。热导率高(>170W/m·K),接近BeO和SiC;热膨胀系数(×10-6℃)与Si(×10-6℃)和GaAs(6×10-6℃)匹配;各种电性能(介电常数、介质损耗、体电阻率、介电强度)优良;机械性能好,抗折强度高于Al2O3和BeO陶瓷,可以常压烧结。 沉积利用PECVD沉积一层无掺杂氧化层,保护元件,并进行退火处理。MSA FACTORYPA6010-PCC10A加热板一级代理
**减少了加热器的使用寿命和工艺稳定性。技术实现要素:本实用新型目的是提供一种等离子体cvd晶圆加热器用表面修磨装置,结构简单,操作方便,修磨效果好,效率高,解决了以上技术问题。为了实现上述技术目的,达到上述的技术要求,本实用新型所采用的技术方案是:一种等离子体cvd晶圆加热器用表面修磨装置,其特征在于:从下至上依次设置有安装支架、旋转装置、加热器支撑圆盘、研磨盘,晶圆加热器设置在加热器支撑圆盘和研磨盘之间;研磨盘包括研磨盘主体,研磨盘主体底部设置有研磨块、调节支撑圆柱,研磨盘主体通过调节螺栓与研磨块相连接固定,调节螺栓的上端设置有数显深度测量指示表;所述的安装支架包括安装支撑柱,安装支撑柱上端设置有安装平板,安装支撑柱下端设置有高度调节块,安装平板上设置有安装主体,安装主体内部设置有台阶孔,装有旋转电机的固定座下部与台阶孔相配合固定,旋转电机的上表面设置有连接圆盘,连接圆盘上端设置有支撑圆盘本体,支撑圆盘本体上端通过螺丝固定有圆环;所述的调节支撑圆柱与圆环相连接。推荐的:所述的高度调节块与安装支撑柱之间设置为螺纹连接。广州PA3005-PCC10A加热板采用电阻加热或感应加热或者电子束等加热法将原料蒸发淀积到基片上的一种常用的成膜方法。
本发明具如下有益于效用:通过将轴对称改成中心对称、将ω形状的加热板中心改成单独分体或封闭环形的构造,以及合理配置留置区和电压位置的安装,化解了传统加热板的构造的缺点,提高了采用的稳定性,增加了加热板的寿命。附图说明图1为传统加热片的构造示意图;图2为传统加热片的一种损坏方法;图3为传统加热片的另一个损坏方法;图4为本发明的一种加热板构造;图5为本发明的另一种加热板构造。图中,o中心点、1热弧板、2半圆形热片、21拐点、22空隙、3左电极、4右电极、5热环、6***加热片、60***热弧片、61***迂回端、7第二加热片、70第二热弧片、71第二迂回端、8留置区、91***电极、92第二电极。实际实施方法下面结合附图和实际实施例对本发明作更进一步详尽解释。为了化解现有技术存在的三个技术疑问,本发明提供一种加热板,包括,数目为偶数的若干组加热片。在实际使用中,偶数组加热片需将加热片分为两组,每组并联着分别联接到电源的两极。一般,还可以将加热片的数目设成4组或6组等,虽然分组越多,越易于致使加热的不平稳,但是对于需加热的较大面积,可以通过多组加热片实现延长加热片的寿命。所有加热片均为中心对称布置。
控制模块在温度稳定阶段的精度值为℃。其中,控制模块在冷却降温阶段精度值为℃。本发明的有益效果与现有技术相比,本发明使得各个分区之间的温度差一直处在合理范围内,使得热盘温度均匀,满足了高精度晶圆的加工需求。还可以提高升温速率,不用担心热盘温度不均匀而损坏晶圆,**终达到了缩短晶圆加工时间,提高产量的目的。附图说明图1是本发明的实施例1的模块图。具体实施方式下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不能用来限制本发明的范围。实施例1:如图1所示,晶圆加热装置包括控制模块和多分区热盘,本领域普通技术人员可根据实际需求,将热盘分成若干个分区,为了方便说明,本实施例将多分区热盘分为***分区和第二分区。***分区包括***加热模块和***温度检测模块,***温度检测模块用于检测***分区的温度值,并将检测到的***分区温度值发送给控制模块,***加热模块用于加热***分区;第二分区包括第二加热模块和第二温度检测模块,第二温度检测模块用于检测第二分区的温度值,并将检测到的第二分区温度值发送给控制模块,第二加热模块用于加热第二分区;在本实施例中。在半圆形热片2的自由端是分别接着电源的左电极和右电极。
以恢复晶格的完整性。使植入的掺杂原子扩散到替代位置,产生电特性。去除氮化硅层用热磷酸去除氮化硅层,掺杂磷(P+5)离子,形成N型阱,并使原先的SiO2膜厚度增加,达到阻止下一步中n型杂质注入P型阱中。去除SIO2层退火处理,然后用HF去除SiO2层。干法氧化法干法氧化法生成一层SiO2层,然后LPCVD沉积一层氮化硅。此时P阱的表面因SiO2层的生长与刻蚀已低于N阱的表面水平面。这里的SiO2层和氮化硅的作用与前面一样。接下来的步骤是为了隔离区和栅极与晶面之间的隔离层。光刻技术和离子刻蚀技术利用光刻技术和离子刻蚀技术,保留下栅隔离层上面的氮化硅层。湿法氧化生长未有氮化硅保护的SiO2层,形成PN之间的隔离区。生成SIO2薄膜热磷酸去除氮化硅,然后用HF溶液去除栅隔离层位置的SiO2,并重新生成品质更好的SiO2薄膜,作为栅极氧化层。氧化LPCVD沉积多晶硅层,然后涂敷光阻进行光刻,以及等离子蚀刻技术,栅极结构,并氧化生成SiO2保护层。形成源漏极表面涂敷光阻,去除P阱区的光阻,注入砷(As)离子,形成NMOS的源漏极。用同样的方法,在N阱区,注入B离子形成PMOS的源漏极。沉积利用PECVD沉积一层无掺杂氧化层,保护元件,并进行退火处理。实施方式所涉及的加热器具备发光管、发热体及反射膜。MSA FACTORYPA6010-PCC10A加热板代理
防止工质进入过渡沸腾区,从而导致传热恶化,壁温过热。MSA FACTORYPA6010-PCC10A加热板一级代理
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