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X射线衍射中，Kα，Kβ具体代替什么？X射线管发生出来的不是纯净的单色光，包含多种波长的射线，较主要的是K系射线。K系射线是指阴极电子碰撞阳极，使阳极电子产生K激发，击走K层电子后，L层或M层电子填充K层电子而产生的X射线。K系射线又可以细分为Kα（L层电子填充）和Kβ（M层电子填充）两种波长略有差异的两种射线。而X射线衍射仪要求使用单色X射线。因此，需要在XRD测试时把后者除掉，传统的方法是在光路上加入一个滤波片（如Ni）。现在一般使用铜靶，在光路上增加一个石墨晶体单色器来去除Kβ射线。单色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射线的干扰。Cu的特征谱线波长为：Kα1(1.54056 Å)，Kα2 (1.54439 Å)，Kβ1 (1.39222 Å)。对于铜靶，Kα波长取Kα1与Kα2的加权平均值，其值为1.54184Å(布拉格方程和谢乐公式中的λ)。选择衍射仪应该注意什么？上海泽权告诉您。上海奥林巴斯XRD代理商有哪些

便携式X射线衍射仪的基本构造你真的了解吗？便携式X射线衍射仪是一种用于土木建筑工程领域的物理性能测试仪器。便携性：仪器小型化，无需专业的实验室，无需水循环冷却系统；快速检测：全谱显示而非步进扫描，普通样品3分钟内即可完成分析。特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056nm。X射线衍射仪的英文名称是X-rayPowderdiffractometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-raypolycrystallinediffractometer简写仍为XPD或XRD。浙江奥林巴斯XRD费用衍射仪怎么选？上海泽权告诉您。

X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.普遍应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，普遍应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。基本构造　X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。（1） 高稳定度X射线源　提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

X射线衍射仪特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线衍射仪的英文名称是X-ray Powder diffractometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数。

x射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用x射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发X射线照射到生物机体时，可使生物细胞受到抑制、破坏甚至坏死，致使机体发生不同程度的生理、病理和生化等方面的改变。不同的生物细胞，对X射线有不同的敏感度，可用于医疗人体的某些疾病，特别是瘤的医疗。在利用X射线的同时，人们发现了导致病人脱发、皮肤烧伤、工作人员视力障碍，白血病等射线伤害的问题，在应用X射线的同时，也应注意其对正常机体的伤害，注意采取防护措施。X 射线衍射仪主要采集的是地层中各种矿物的相对含量。徐州衍射仪价钱多少

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X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线，晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。X射线衍射仪技术（XRD）注意事项： （1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。 （2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。 （3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 （4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。上海奥林巴斯XRD代理商有哪些

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