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分析电子衍射与x射线衍射有何异同： 相同点是两者都是可以把晶体看做一个三维的光栅，对不同位置的原子散射的波进行叠加求和，反映的晶格的对称性信息；不同点是电子衍射是电子受到在空间上周期性变化势场的散射，电子与样品的相互作用往往比x射线衍射与样品作用要强烈一些，往往不止发生一次散射，即要考虑动力学效应（多次散射），x射线是与核外电子发生作用，与核外的电子分布情况相关。实用角度的答案，在确定晶体对称性上，通常是用x射线来定的，因为动力学效应很弱，不会出现本来消光的斑点位置因为多次散射的原因又出现亮斑的情况，因此便于分析，另外很重要的一个原因是x射线的制样更加容易。野外作业，环境的恶劣程度对衍射仪有了更高的要求。浙江奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪厂家定制

取向分析包括测定单晶取向和多晶的结构（如择优取向）。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。宏观应力的测定宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测定点阵平面在不同方向上的间距的改变，可计算出残留应力的大小和方向。嘉兴衍射仪代理价格测角仪是粉末衍射仪上精密的机械部件，用来精确测量衍射角。

X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置（峰位）可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度（峰强度）可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。

当X射线波长λ已知时（选用固定波长的特征X射线），采用细粉末或细粒多晶体的线状样品，可从一堆任意取向的晶体中，从每个θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后，利用布拉格公式即可确定点阵平面间距d、晶胞大小和晶胞类型。利用X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础，测定衍射线的强度，就可进一步确定晶胞内原子的排布。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变），以辐射线束的波长λ作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件，故选用连续X射线束。再把结构已知晶体（称为分析晶体）用来作测定，则在获得其衍射线方向θ后，便可计算X射线的波长λ，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术，可用于分析金属和合金的成分。x射线衍射仪 , 包括粉末衍射、单晶衍射、高温衍射仪等等 !

当x射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 x射线波长λ已知时(选用固定波长的特征x射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后，利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是x射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续x射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算x射线的波长，从而判定产生特征x射线的元素。这便是x射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。x射线粉末衍射可以计算物质晶体结构数据。奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪什么品牌比较好

很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。浙江奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪厂家定制

X射线粉末衍射仪, 针对于测试样品为粉末; X射线衍射仪 , 包括粉末衍射、单晶衍射、高温衍射仪等等 ! X射线衍射仪包含X射线粉末衍射仪! 由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难.所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术.单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构.粉末衍射也可以分析出空间结构.但是大分子（比如蛋白质等）等复杂的很难分析.X射线粉末衍射可以:1,判断物质是否为晶体.2,判断是何种晶体物质.3,判断物质的晶型.4,计算物质结构的应力.5,定量计算混合物质的比例.6,计算物质晶体结构数据.7,和其他专业相结合会有更普遍的用途。浙江奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪厂家定制

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