气密压差检漏仪

Opto flash具有2D图像相机的结构，为轴类件光学测量行业设定了新的标准，对测量操作来讲是很重要的优势。通孔测量：通孔测量的时间只在毫秒之间，而且结果更加准确。无以伦比的测量速度动的设计。完全的2D，基于不需要光学结构。另外。Optoflsh具有2D图像的连续性，完整的轮廓和工件图像都可以在一张照片中采集，所以可以尽可能大的获取数据，减少机械误差。同时，Optoflsh具有轴向端面跳动，2D图像的算法，使得整个端面的表面都可以在每个旋转角度都被动态扫描出。所以Optoflash测量轴向端面跳动的结果比传统线扫描光学设备的更好。通孔测量的时间只在毫秒之间， 而且结果更加准确。非接触式测量系统，能够对发卡的主要几何特征进行尺寸测量。气密压差检漏仪

Optoquick是世界上同类产品中一直面对挑战并结合了接触测量传感器和自动触针更换系统的解决方案。在相同的测量周期内,接触式感应针可自动换型,以便使用合适的针型进行任何特定的测量。通过这样的解决方案, Optoquick被定位为一个集多种功能于一体的柔性解决方案,因为它可以提供高级的测量功能,并使传统测量产品无法解决的测量成为可能。全新的Optoquick是传动轴测量的完美解决方案，其中花键、齿轮，如OBR，ODB，节距跳动都可被测量。氦气检漏在燃料电池组的流动板方面，马波斯Hetech目前正在制造一个配备4个腔室的系统，以满足客户的高生产率需求。

电机及其组件的质量保证一代电机面临的挑战是如优化部件生产和组装的效率、质量和成本。电机技术在全球范围内的空前增长,特别是在汽车领域,使制造商和终用户对组件可靠性产生了全新的认知。这一新趋势对生产链的质量控制和过程控制提出了新的要求。因此,汽车行业越来越重视电机的可靠性,并开始转向生产更高质量的零部件和总成。Marposs 开发一整套方案,致力于电动车电机及其组件的过程控制、在线和离线质量检测。MARPOSS是一如既往的合作伙伴迎接新的电动汽车挑战。

对于半导体行业来说，圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节，检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量，马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中，可在Z轴上准确聚焦。因此，这是检测圆晶缺陷的理想选择，例如，圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验，可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm * 0.4μm，大倾斜角为+/-45°，0.75数值孔径。泄漏标准件和LTC检漏机控制是定期检查和校准测试系统必不可少的设备。

在齿轮的NCG检测方面，电驱动产品内的高精度齿轮往往需要采用非接触技术对某些参数进行检测。Marposs非接触式检测方案,使用激光扫描传感器或共焦技术来测量产品的各种外观特征,如倒角尺寸和侧面轮廓等。在泄漏测试方面，Marposs为齿轮箱变速箱売体提供量身定制的泄漏测试解决方案,其满足行业及客户的各种需求,支持手动或全自动方案。高速变速箱的装配过程通常需要确定和验证装配用的垫片适用与否,以防止变速箱运转过程中可能导致的噪音或工作异常。马波斯为电动马达及其组件开发生产的所有阶段的所有电气测试和绝缘问题检测提供定制的在线和离线解决方案。空调散热器加工检测

Dosaset是马波斯在医疗设备装配领域的解决方案，能够保证每种设备的特性和优越性能。气密压差检漏仪

在半导体的生产环节中，圆晶减薄是其中一个关键的生产环节。实际上，由于芯片已在圆晶上成形，减薄操作的任何失误都可能影响芯片成品率和成本。在减薄加工中，可用接触式或非接触式传感器测量，甚至可在去离子水中测量，进行严格在线控制。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。另外，马波斯传感器可控制的厚度从4µm到900 µm（单侧测量），智能处理厚度数据，可正常控制超薄厚度和记录数据（黑盒功能）。气密压差检漏仪

马波斯（上海）测量设备科技有限公司是以提供机床领域检测系统，标准与非标尺寸检测，泄漏与装配测试，工业电脑与软件内的多项综合服务，为消费者多方位提供机床领域检测系统，标准与非标尺寸检测，泄漏与装配测试，工业电脑与软件，公司始建于2006-05-15，在全国各个地区建立了良好的商贸渠道和技术协作关系。马波斯工业测量致力于构建机械及行业设备自主创新的竞争力，马波斯工业测量将以精良的技术、优异的产品性能和完善的售后服务，满足国内外广大客户的需求。