局部放电测试系统

在半导体行业，圆晶减薄当然是非常精密的加工过程。在减薄过程中，需要用接触式或非接触式传感器严格控制加工过程。从步骤来看，封装前，圆晶需要达到正确的厚度，这是半导体生产的关键。圆晶背面研磨（圆晶减薄）是一种半导体生产工序，在此期间需要严格控制圆晶厚度，使圆晶达到超薄的厚度，可叠放和高密度封装在微型电子器件中。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。同时，马波斯传感器可在干式和湿式环境中可靠地在线测量厚度。作为标准与同轴电缆零件的A/C软管用双腔机。测量原理是采用质谱仪进行整体测试。。局部放电测试系统

Optoquick的设计目的是在数秒之内完成对零件的综合质量检查。基于图像识别的技术，有助于缩短测量周期。在旋转工件进行测量时，Optoquick还可采用智能图像处理技术同时测量零件的多个不同特征。采用Optoquick进行快速质量检查，提高了生产率并优化了产能。Optoquick操作便捷，只需简单培训即可。工件上下料的过程，符合人体工程学的要求。上下料的空间是开放式的，并采用安全光幕来保证操作人员的安全。精心设计的用户操作界面，提供清晰的测量结果，呈现出工件的任何不合格情况。降低了操作员的培训难度，并提高了生产率。ae传感器Marposs为齿轮变速箱壳体提供量身定制的泄漏测试解决方案,可满足行业内手动或全自动的多选项解决方案。

泄漏测试是电池pack装配过程中的基本要求，用于检查电池pack的气密性，以防止水、湿气、灰尘或其他外部污染物进入，这些会导致pack内部的高压零部件出现短路。MARPOSS可以用累积室中的氦气对电池PACK进行泄漏测试。在量产期间进行100%质量检查，需要使用整体泄漏测试方法以很大程度地缩短测试时间。当无法采用空气法（压降法或质量流量法）时，因为它们无法满足测试规范要求，累积室中的氦气示踪法是比较好的测量方案，其具有比较高的测试灵敏度和很短的循环周期。

Optoquick可直观的测量验证，测量报告易于理解，通过清晰的图像,显示超出公差范围的结果，用于简单分析的真实工件图像。OptoquickL系列是大型重型工件测量的比较好选择。可通过手动或机器人自动模式将工件装载在Optoquick上。尾架为自动化移动式,能够全自动夹紧工件和实现换型。智能控制界面使得生产管理者能通过简单的指令与Optoquick互动。Optoquick支持多个工件的测量程序。因此,可通过简单的指令按顺序测量不同的工件。它可在数秒之内从一个程序切换到另一个程序,以消除新生产批次设置中的任何延迟情况。本质上NVH检测的原理是通过施加与实际工况相似(甚至更高)的转速和扭矩值来对齿轮进行检测。

在检测金属双极板时，马波斯可提供界面接触电阻检测方案以助力新能源电动车行业。从适用范围的角度来看，马波斯提供的这款界面接触电阻检测方案可用于检测金属双极板的质量，同时预测GDL膜压紧并装入PEM燃料电池堆后的电气特性。对于金属双极板的检测而言，马波斯提供的检测方案提供的压紧力值为40kN。在进行检测的过程中，马波斯提供的这款界面接触电阻检测方案也能调整压缩顺序。同时，界面接触电阻检测方案可保证测试检具可换，并提供高分辨率的电阻测。Marposs可以提供测试方案,用于在线或离线的定子绝缘质量检测。电池装配检测

马波斯在泄漏测试方案领域拥有丰富的经验,方案可集成不同技术,确保可以为整个电驱动产品组件提供解决方案。局部放电测试系统

MARPOSS方案是过程监控系统,几乎适用于所有的金属成形过程,包括冲压工艺。该系统可以使用不同类型的监控模式监控各种机器和传感器。过程信号可以被监测并显示为峰值、包络曲线、趋势或过程质量进程。放置在机器或工装相应位置的传感器(如力、声发射、距离、温度)将过程信息转换为电信号,这些电信号被放大、过滤,然后用合适的监测方法进行评估。马波斯通过相机和共聚焦技术对硅钢片进行二维测量。该方案可以测量试制或小批量生产中使用的激光切割硅钢片也适用于大批量冲压硅钢片和铁芯产品。局部放电测试系统

马波斯（上海）测量设备科技有限公司目前已成为一家集产品研发、生产、销售相结合的贸易型企业。公司成立于2006-05-15，自成立以来一直秉承自我研发与技术引进相结合的科技发展战略。公司具有机床领域检测系统，标准与非标尺寸检测，泄漏与装配测试，工业电脑与软件等多种产品，根据客户不同的需求，提供不同类型的产品。公司拥有一批热情敬业、经验丰富的服务团队，为客户提供服务。马波斯以符合行业标准的产品质量为目标，并始终如一地坚守这一原则，正是这种高标准的自我要求，产品获得市场及消费者的高度认可。马波斯（上海）测量设备科技有限公司本着先做人，后做事，诚信为本的态度，立志于为客户提供机床领域检测系统，标准与非标尺寸检测，泄漏与装配测试，工业电脑与软件行业解决方案，节省客户成本。欢迎新老客户来电咨询。