微焦点X射线检测

微焦点X射线检测系统，日本爱比特，i-bitX-ray检测系统3D-X射线立体方式观察装置

产品型号：FX-4OOtRX

运用3D-X射线立体方式达成大电流元件的双层锡焊分离检查!

特征:

D130kV,0.5mA,39W的高输出X射线5mm厚的钢板也能穿透(FX-500tRX)

达到110kV,0.2mA,20W的高输出及空间分辨率2um的高解像度(FX-400tRX)

可利用3D-X射线立体方式进行2层分离检查

采用寿命长,130万画素,14bit(16384阶调)平板X射线,可降低运营成本

小型的检查设备本体

可以用QR码识别作产品追踪 上海晶珂公司销售X射线检测3D自动检测，用于电子零件, PCB, BGA, IC封装缺陷检测等。微焦点X射线检测

日本爱比特，i-bit  微焦点X射线检测系统  3D自动X射线检测

型号：FX-300tRX.ll

对应大型基板的3D-X射线观察装置

特征：

可的覆盖600x600mm尺寸的基板；

几何学倍率:达到1,000倍；

X射线相机可以任意斜0°~60；

用触摸屏和操作杆提高操作 ；

滑动门大型样品也能轻松设置

X,Y,Z1(相机),Z2(X射线),Q轴(倾斜)的5轴操作

用X射线立体方式可除去背面的安装零件的信息进行观察(可以选择的追加功能)

转盘能够对应400x400mm尺寸的基板(可选择的追加功能))。。。 湖北印刷电路板X射线检测微焦点X射线检测系统，检测焊缝的图像处理与缺陷识别，欢迎咨询上海晶珂机电设备有限公司。

微焦点X射线检测系统，日本爱比特，i-bitX-ray检测系统3D-X射线立体方式观察装置

产品型号：LFX-1000

IC打线结合/导线架状态自动检查设备

概要:

可进行全自动检查的在线式X射线检查设备,针对IC内部的打线接合/导线架的状态进行高速/高精度检查

特征:

在导线架的状态下进行自动搬运及自动检查标注不良的部位。

不仅是打线结合的部位,也可以检查金属异物及导线架间隔等

导线架从进板机直接堆板设置或者是用抽换式基板收纳架供料

可与各种上料机/下料机连接(为追加选配功能)

上海晶珂销售的日本爱比特微焦点X射线检测系统，本装置使用X射线针对于硅晶片内部的结晶缺陷之空隙进行自动检查2随然用红外线也能够做同样的检查,但是难以做低电阻的硅晶片检查,并且需要完成**终制造过程的抛光过的硅晶圆片才能做精度高的检测。用X射线检查不需要这些条件,研磨前的状态(刚切片后)也能够检查并且与硅晶圆片有无电阻值无关都可以进行检查3可检查的硅晶圆片尺寸为12英寸,及8英寸(6英寸为选配功能)4关于安全性:不需要X射线操作人员资格,因为X射线会被完全遮蔽,所以能够安全的使用上海晶珂公司销售精密无损工业用x射线检测系统，微焦点X射线检测系统。

检测基板焊点的焊锡不足、焊接不良、焊锡短路等问题，先上海晶珂机电设备有限公司销售的日本微焦点X线检测系统。X射线观察装置FX-3OOfR几何学倍率:900倍荧光屏放大倍率:5400倍X射线输出:90kVX射线焦点径:5u,15u(切换)用几何学倍率特征D随然是小型设备但可达成几何学倍率900倍2存储良品的图像,可以和现在的图像做比较3可以将平板相机倾斜60°做观察4即使做倾斜观察也能自动追踪观察位置(即使相机倾斜位置点也不会偏移)5附带有各种测定机能6可追加选项检查机能选项功能可对应CT及L尺寸8靶材~试料0.5mm,靶材~X射线相机450mm:450/0.5=900,几何学倍率达到900倍L尺寸装置可对应600x600mm的基板上海晶珂销售的X射线检测设备针对产品内部缺陷的装置检查。重庆爱比特X射线检测

QFN、SON，BGA等的焊锡部位在零件底部的部件检查的X-ray,X射线在线检查设备。微焦点X射线检测

日本爱比特，i-bit微焦点X射线检测系统用于大型线路板上面的BGA、CSP、倒装芯片检测、半导体

微焦点X射线检测系统3D自动X射线检测小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本。

型号：FX-300fRXzwithc搭载芯片计数功能!依据X射线的穿透图像数卷轴上的压纹带里面的电子零件“方形芯片‘的数量。一个卷带盘约30秒可完成计数。倾斜CT功能,垂直CT功能(选配设定)将检查对象工件放置在转盘上做360°旋转,取得图像。 微焦点X射线检测

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