吉林stil传感器原理
什么是光谱共焦技术?光谱共焦位移传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理,光谱共焦传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。传感器适用于绝大多数行业:计量或研究实验室中的高精度仪器,工业生产线上的质量控制。用于工业环境中的设计,传感器的各系列,吸引集成器与测量检测机器轻松连接,这归功于为每台仪器提供的动态链接库(DLL)。光谱共焦成像基于2个原则:l共焦成像l光轴的彩色编码。共焦装置是一种光学装置,光学系统在物体的表面上产生点光源S的图像S’。反向散射光由相同的光学系统收集,该光学系统在***S’’处成像。***被置于光电探测器的前面,它过滤可以到达光电探测器的光线,因此它也被称为“空间滤波器”。共焦装置的特点是具有特殊的信噪比。按照CCI原理,光学系统是彩色光学头,光电探测器是一个光谱仪。粗糙度测量符合ISO标准25178-602传感器适用任何反射表面;通过塑料或玻璃等透明层。吉林stil传感器原理
光强信号指示灯显示当前光强是否超过5%。当测量样品未在量程范围内,此时不存在测量信号,该指示灯为熄灭状态。当光强信号大于5%,信号灯点亮为绿色,表明测量数据质量较高。当光强信号小于5%时,信号灯则会显示为橙色预警,提示用户当面光强信号较弱,测量数据效果不佳。此时应该当信号灯点亮为红色时,表明当前光强信号为100%。测量数据的质量存在不确定性,因此可以尝试一下方法解决:量程预警信号灯当前样品是否在测量范围内,当样品不在量程范围内时,该信号灯为熄灭状态。当样品位于量程的15%-85%区间时,该信号灯点亮为绿色。而当样品位于量程的15%以下或85%以上时,该信号灯则显示为橙色,此时测量的数据仍是有效的,只不过需要警惕样品超出量程范围。浙江马波斯传感器测量范围光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,用户的信赖之选,有需要可以联系我司哦!
应用范围:光谱共聚焦传感器既可用于工业环境中,也可用于生产过程中的在线检测以及实验室环境中的高精度仪器。他们主要涵盖以下内容:l微形貌(测量样品的形状和表面特征)l尺寸控制(测试制造产品的特定尺寸是否符合规格)l质量控制(制造产品缺陷的识别和特征描述)l粗糙度测量(测量样品表面的统计特征)l摩损度(表征机械或化学侵蚀)l厚度测量光谱共焦传感器完全符合涉及3D真实表面纹理的测量和分析的ISO25178标准。此外,此标准第601章节致力于非接触式表面测量,引用CCI作为***参考技术原理
优势•具有自主知识产权的算法和软硬件设计•·具备高速原始点云传输能力•·具备深度图输出对接各大机器视觉软件•·高达2048测量点的X向轮廓检测•·出色的光学设计,可检测高反光、玻璃等材料•·405nm蓝色激光,面向精密电子与汽车钣金行业需求•·1P67防护等级,防尘、防水、抗震•·可靠工作于0-50℃技术特点产品基于激光三角法测量原理:图像传感模组从一个角度检测投射到被测物体表面上的激光线,反射光透过高质量光学系统,被投射到成像单元上。图像处理计算传感器到被测表面的高度方向(Z轴)和沿着激光线的方向(x轴)的距离信息。通过移动被测物体或传感器,获取的一系列切片信息进行组合,就可以得到三维数据。马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器,期待您的光临!
ENITH控制器采用比较高质量标准制造,是一款坚固可靠的产品,可满足车间环境(如实验室)中**苛刻的应用,是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。ZENITH控制器的柔性测量,可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯,ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量,而不会对被测产品造成任何损坏。ZENITH框架紧凑,结构稳固,专为7天24小时全天候使用而设计。2ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量,包括各种反射性材料。3高频率采样是ZENITH与编码器(**多5个)结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光学笔:CL-MG、OP、ENDO和EVEREST,实现达纳米级精度的计量表现。光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,欢迎客户来电!浙江马波斯传感器测量范围
非接触式测量,一体化设计,3D轮廓扫描,多功能数据处理适用于各种材料的精确测量。吉林stil传感器原理
生物医疗-人造膝关节粗糙度测量符合ISO标准25178-602,传感器适用任何反射表面机械手表特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射微流体类通过塑料或玻璃等透明层,使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点涡轮叶片特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射电池点对点厚度测量2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量非接触式测量,一体化设计,3D轮廓扫描,多功能数据处理适用于各种材料的精确测量;使用简单,拆装方便,扫描速度快,定位精度高重复精度±0.5~±1µm;稳定性高,抗干扰能力强膜厚其他半导体用于膜厚的在线测量和质量控制非接触测量,适用于易变形和不透明的材料小厚度测量5µm,适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理吉林stil传感器原理
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