宁德荧光光谱仪光谱

时间:2023年03月04日 来源:

手持式X射线荧光(HHXRF)是一种众所周知且较广使用的快速筛选和分析金属矿石的方法。它为各种采矿样品类型提供快速,准确的现场分析,如钻芯,岩石,岩屑和粉末,结果可在几秒钟内获得,无需等待耗时且昂贵的实验室分析结果,能够在现场做出决定(例如钻井方向)。日立分析仪器的X-MET8000 是一种手持荧光光谱仪,具有多功能性,可用于采矿过程各个阶段的地球化学成分分析,从勘探的早期阶段到后期阶段的尾矿废物分析。它易于使用,有助于减少对实验室分析及其相关成本的需求。日立分析仪器推出的一款用于金属识别的火花光谱仪OE750,能提供在同类OES光谱仪中前所未有的分析水平。宁德荧光光谱仪光谱

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炼油工厂的管道和设备的硫化腐蚀始终是泄漏以及其他各种问题产生的根源,可能会导致管道阀门法兰被提前更换、计划外停机及财产损失和人员伤害的各种潜在事故。硅含量较低(<0.10%)的碳钢在暴露于无氢硫化腐蚀环境下会加快腐蚀。根据美国石油协会(API)推荐规范939-C(《炼油厂中避兔硫化作用腐蚀失效指南》)的资料显示,三分之一的高温硫化腐蚀失效均由硅含量较低而导致。为防此类事故的发生,手持式X射线荧光光谱仪(HHXRF)新技术的发展使我们能够应对这些挑战,光谱仪来分析管道和设备中的硅含量无疑是一种理想选择。因为它易于使用且具有非破坏性。宁德牛津光谱仪销售手持激光光谱仪重量轻(带电池1.5kg),体积小,符合人体工程学设计。

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使用手持式X-MET8000光谱仪从金刚石锯片切割的岩石表面进行了代表性的稀土元素分析,以获得每个样品的“标准”表面稀土元素含量,这是获得良好结果所必需的。岩石样品可能非常不均匀,因此化学成分在岩石的不同点上可能变化很大,需要多个测量点来获得代表性的结果。为了验证切割岩石表面的XRF(X射线荧光)结果,在经过认证的实验室中使用ICP-MS(电感耦合等离子体质谱仪)分析了相同的岩石样品,二个结果非常接近。要获得总体结果,必须对异质样品进行多次测量。由于岩石基质的异质性,单次测量的变化可能很大,随着测量次数的增加,平均结果的准确性得以提高。

在过去的几十年中,诸如镧(La),铈(Ce),(Pr)和钕(Nd)等稀土元素(REE)的使用已***增加。 Oulu矿业学校的地质学家KimmoKärenlampi在其博士学位论文中一直探索在芬兰中部Otanmäki发现的稀土资源。 他一直使用手持式X-MET8000 光谱仪筛查从勘探区收集的岩石样品和实验室规模的采矿加工研究样品的元素组成。筛选结果已用于选择**感兴趣的样品,以进行进一步的处理和分析。X-MET8000 光谱仪可以分析稀土元素,包括Y(钇),Sc(钪),La(镧),Ce(铈),Pr(镨),Nd(钕),以及从矿山和土壤中发现的其他常见元素。 与KimmoKärenlampi博士研究有关的工作表明,利用X-MET 8000光谱仪以合理可靠的方式,可以经济高效地快速分析稀土元素,例如镧,铈,钕,镨和钇。激光光谱仪可将检测结果从仪器直接传输到云端。

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当我们谈到检出限,是指分析仪能够检测出材料样品中某一元素的下限。了解仪器的检出限非常重要,因为如果在该检出限以下进行测量,则将获得该特定元素的零读数。换而言之分析仪会显示这种元素不存在,但实际上它是存在的,只是含量很少。如果您正在进行筛选以确保元素不存在,这将为您提供错误的结果;或者如果元素是必需品,这也将为您提供错误的结果,造成退货,因为您无法检测到它。一个错误的读数会在报废和返工方面耗费资金;更坏的情况是**终的部件将在现场失效。为了避免这种情况,必须确保正在分析的元素的含量高于光谱仪的检出限。日立直读光谱仪的分析能力接近或超越金属行业分析要求。手持荧光光谱仪是一种易于使用且快速,坚固耐用的工具,适用于现场使用。金华X-MET8000手持荧光光谱仪功能

无论您身在何处,都可以将光谱仪连接您的智能手机,并通过微信等方式与您的同事分享测试结果。宁德荧光光谱仪光谱

近年来材料分析领域发生了迅速变化,光学发射光谱(OES),X射线荧光光谱(XRF)和激光诱导击穿光谱(LIBS)等技术的不断发展和应用,使整个金属生产和机加工的公司更容易材料分析。无论是质量保证/质量控制(QA/QC),材料分类,材料可靠性鉴定(PMI)还是科学分析,日立公司都可以提供分析仪器,使您能够在现场和移动中测试材料。许多公司都在问的问题是:哪种技术适合我们?OES,XRF和LIBS都非常通用,特别是在识别金属方面。然而这三种技术中的每一种都以不同的方式工作,并且各有其优点和缺点。此外没有一种光谱仪可以满足从精确的痕量元素分析到合金快速分选以及介于两者之间的所有需求。宁德荧光光谱仪光谱

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