X-MET光谱仪原理
便携式X射线荧光光谱仪可以快速进行多元素实时分析,在富钴结壳资源勘查中有广阔的应用前景,但是现有仪器的分辨率和稳定性有待进一步提高,特别是现场原位分析法的应用有待研究。本文针对富钴结壳中目标元素含量相对较高的特点，采用松散粉末法制样，建立了手持式X射线荧光光谱仪快速测定太平洋富钴结壳样品中Mn、Fe、Co、Ni、Cu和Zn的分析方法。该方法用多金属结核和富钴结壳国家标准物质进行验证,测定值的相对标准偏差(RSD)在0.2%～3.0%之间,测定值与标准值的相对误差为92.9%～107.6%。样品现场分析和实验室分析的数据对比表明，除了低含量Cu略有超差外，Mn、Fe、Co、Ni、Zn和品位均无超差，完全满足该类矿产资源勘查规程的要求。本法简单、高效,适用于对野外富钴结壳资源作出快速的初步评价。X-MET手持式X荧光光谱合金分析仪10秒就能快速准确的测出铝合金中的Mg镁的含量值。X-MET光谱仪原理
与传统的手持式XRF光谱仪相比，Vulcan的速度是比较大的优势。它帮助Romuta确保比较大的金属分拣效率。作为激光光谱仪，不需要X射线许可证或培训课程。对于拥有小型团队的Romuta来说，派遣员工去参加培训会花费昂贵。简单的程序在废料场非常重要因为它消除了用户相关的错误，并确保结果的一致性。Vulcan能够提供准确的合***号ID，通常足以满足Rumata的要求。数据管理对于Romuta至关重要，它既记录结果又记录图片。Vulcan的数据管理功能将为Romuta提供未来所需的工具。X-MET光谱仪原理一般手持光谱仪的工作温度是-10℃-50℃你行它也行，只要操作者能工作的地方，仪器都可以使用。
X-MET8000是日立高科技公司生产的另一款手持式光谱仪，但采用的是XRF技术。与Vulcan相同的形状，同样坚固和多功能性。X-MET光谱仪为各种合金提供精确的化学成分和牌号ID，包括钢，镍合金，铜合金，铝合金等。通过可选的保护性Hero窗口，它可用于测量高达400°C的样品。这使得可以在加工热金属以及玻璃等物质的生产线上进行现场测试，质量保证和控制非常方便。然而当在元素周期表上分析镁以下的元素时，需要OES技术，而流行的选择是PMI-MasterSmart直读光谱仪，HitachiHigh-Tech的便携式OES解决方案。由于碳和氮等元素的检测水平非常低，可用于提高钢的硬度和其他物理因素，因此非常适用于金属行业的高精度PMI。它也是认证金属部件的优先仪器，例如化学，石化和发电厂的压缩和储罐，管道和管材。在材料必须耐高温和高压以及腐蚀性物质的情况下，100％PMI是必不可少的，而这就是PMI-masterSmart直读光谱仪的设计宗旨。
日立手持式光谱仪能够检测不规则的样品，还带有自动停止功能，若是窗口前并没有检测物品，仪器会在启动0.2秒后暂停使用，精进了仪器的辐射安全功能。手持式矿石分析仪方便了勘探矿石地质、矿山测绘、矿石开采与矿石贸易等工作人员，能在**短时间内减少地质工作人员的工作成本，还可研究不同地貌的矿石资源。手持式矿石分析仪还突破了实验室环境的限制，如果需将矿样送至远离现场的实验室进行检测，费时费力、成本昂贵。那么现在有了手持式矿***分析仪，可实现在现场进行无损检测，无需将样品送至实验室检测，甚至检测出的结果能够与实验室的结果媲美。日立手持式光谱仪重量轻，操作简单、IP54防尘防水设计、做工精良、FP基本算法优异是法兰制造业选择。
X-MET8000系列是目前市场上小巧轻便的高性能Ⅹ射线荧光(XRF)光谱仪的典型**。体积小巧、重量轻便、人体工程学设计，可减少操作者疲惫并可执行更多的测试点，提供了***的性能和佳的轻元素灵敏度，适应**严谨的应用，如低含量硅的检测。可在严苛的精炼厂环境下提供快速、准确的元素分析。对于经认证的标准样品，在确保其表面洁净且无含有硅的污染物或其他元素的污染物后对其进行分析。对质量目标数据的要求，决定了样品制备要求和所需要的分析时间。为确保准确的检测结果，应清洁被测部件的表面。为了去除油漆，腐蚀表面和污垢，建议使用配有锆砂盘的角磨机。手持式光谱仪可以用来快速无损准确分析合金材料的元素成分和牌号包括不锈钢1Cr13等不锈钢工具钢低合金钢。X-MET光谱仪原理
人们外出进行地质调查时，手持合金分析仪得到的结果，可以直观地显示合金及其元素百分比含量。X-MET光谱仪原理
XRF用于便携式和手持材料分析超过40年，使用X射线而不是激光能量来激发样品表面的分子。初级X射线由光源产生并指向样品表面，当光束撞击样品中的原子时，它们会发生能量反应，且由探测器收集和处理的次级X射线。使用XRF技术，样品保持完整，而不是将原子，离子和电子从材料中分离出来。这意味着XRF是一种非破坏性的材料分析形式，这使其成为测试成品，零件和组件的较好方式，而不会损坏样品，这在航空航天和汽车等行业中至关重要。X荧光光谱仪非常适合精确化学成分
包括识别痕量和杂质元素。 X-MET光谱仪原理