一体化HTOL测试机现货

时间:2024年03月13日 来源:

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    GJB548B-2015方法,否则采用额定工作电压S级**少时间有240h到120h共6个级别;B级**少时间160h到12h共10个级别;H级**少时间352h到80h共11级别;K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别;B级别最低温度从125℃到250℃;H级最低温度从100℃到150℃;K级最低温度从100℃到125℃。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。 上海顶策科技TH801智能老化系统,随时导出测试数据,简化可靠性测试溯源问题。

一种闪存htol测试方法,包括:提供待测闪存,所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元;所述闪存参考单元中捕获有空穴;对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。具体的,待测闪存在同一闪存芯片(die)中的不同区域分布有闪存参考单元和闪存阵列单元,闪存阵列单元用于存储数据,闪存参考单元用于提供参考阈值电压以区分闪存阵列单元的状态。提供的待测闪存在其生产工艺过程中易在闪存参考单元中捕获。引入)空穴,所述空穴在htol测试过程中存在丢失。图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图,TH801智能老化系统,自有发明专利智能实时在线监测技术。闵行区HTOL测试机怎么用

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