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视场亮度是指显微镜下整个视场的明暗程度,不仅与目镜、物镜有关,还直接受聚光镜、光阑和光源等因素的影响。在不更换物镜和目镜的情况下,视场亮度大,镜像亮度也就大。3.基本应用普通光学显微镜被.地应用于各学科领域中,它是用来观察、记录和研究经过制片技术处理后被检物体的细微结构的**主要的光学精密仪器。能够用这类显微镜观察到的细胞结构,如细胞壁、纹孔、线粒体、质体、液泡、核和核仁等,均称为细胞的显微结构。(二)相差显微镜相差显微镜是利用特殊的相差装置,使光波通过样品时把光程差变为振幅差,以增大透明物体的明暗反差,从而可以用来观察未染色的.组织和细胞结构的一种显微镜。1.基本原理相差显微镜的基本原理如图3-1-4所示,从光源射出的光通过标本时,如果标本是完全均质透明的物体,光将继续前进,称为直射光;若某部分含有折射率不同的物质时,由于光的衍射现象则向周围侧方分散前进,这种光振幅较小,相位延后,称为衍射光。当直射光和衍射光两个光波同时达到一点时,则相互干涉,形成合成波。合成波的大小取决于两个光波的振幅和相位差。如果振幅相等,相位差为零,其合成波则有两倍的振幅,产生相长干涉,**为明亮;若一个光的相位推迟。还发展了其他多种类型的电镜。如扫描电镜、分析电镜、超高压电镜等。金华销售显微镜***的选择
一、9j光切法显微镜的用途9j光切法显微镜以光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状;在不破坏表面的条件下,测出截面轮廓的微观平面度和沟槽宽度的实际尺寸;此外,还可测量表面上个别位置的加工痕迹和破损。本仪器适用于测量,但只能对外表面进行测定;如需对内表面进行测定,而又不破坏被测零件时,则可用一块胶体把被测面模印下来,然后测量模印下来的胶体的表面。二、9j光切法显微镜的规格仪器的示值相对误差(分段计)5%-24%摄像装置放大倍数≈6×测量平面度范围≈()um平面宽度用测微目镜≈()mm用坐标工作台≈()mm仪器质量≈23kg仪器外形尺寸(l×b×h)mm180×290×470其余见表1表1测量范围(平面度平均高度值)/um表面粗糙度级别所需物镜总放大倍数物镜组件与工件的距离/mm视场/mm960×∞*510x8-730×∞*260x6-514×∞*120x20-804-37×∞*60x*物镜的光学筒长三、9j光切法显微镜的工作原理仪器是采用光切法测量被测表面的微观平面幅度,其工作原理,狭缝被光源发出的光线照射后,通过物镜发出一束光带以倾斜45°方向照射在被测量的表面。具有齿状的不平表面,被光亮的具有平直边缘的狭缝像的亮带照射后,表面的波峰在s点产生反射。安徽官方显微镜多少钱光学显微镜可把物体放大1600倍,分辨的**小极限达0.1微米。光学显微镜的种类很多。
这些技术利用不同的表面性质,能够很好地区分开在形貌上差别很小或是材料表面上难以检测到的不同组分。5.4.1力调制技术力调制(forcemodulation)成像是研究表面上不同硬度(刚性)和弹性区域的SFM技术。可以验明复合物、橡胶和聚合混合物中不同组分间的转变,测定聚合物的均匀性,成像硬基底上的有机材料,检测集成电路上的剩余感光树脂以及验明不同材料的污染情况等。图。使用力调制技术,探针在扫描的垂直方向有一小的振荡(调制),比扫描速度快很多。样品上的作用力大小被调制在设置点附近,这样样品上的平均作用力同简单接触模式是相等的。当探针与样品接触时,表面阻止了微悬臂的振荡并引起它的弯曲。在相同作用力条件下,样品刚性区域的形变要比柔性区域小很多。也就是说,对于垂直振荡的探针,刚性表面对其产生更大的阻力,随之微悬臂的弯曲就较大。微悬臂形变幅度的变化就是对表面相对刚性程度的测量。形貌信息(直流或非振荡形变)与力调制数据(AC或振荡形变)是同时采集的。早期的力调制是在压电扫描器z方向加一调制信号来诱导垂直振荡。这项技术虽然得到广泛应用,但也存在一些缺点。额外高频调制信号加到压电扫描器,能激发扫描器的机械共振。
▽电子衍射光路示意图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]▽单晶氧化锌电子衍射图▽无定形氮化硅电子衍射图▽锆镍铜合金电子衍射图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]6设备厂家世界上能生产透射电镜的厂家不多,主要是欧美日的大型电子公司,比如德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI公司,日本的日立(Hitachi)等。7疑难解答lTEM和SEM的区别:当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息,透射电镜收集透射电子的信息。SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面;TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。l简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。结构为:目镜,镜筒,转换器,物镜,载物台,通光孔,遮光器。
二)供应商注册流程图总目录.章投标邀请函5第二章采购项目内容8一、项目说明8二、采购项目内容及技术要求9三、商务要求23第三章投标人须知25一、说明25二、投标费用27三、招标文件27四、投标文件的编制29五、投标保证金32六、投标文件的递交33七、开标、评标、定标34八、合同的订立和履行37九、询问、质疑、投诉38十、适用法律及**采购政策42十一、采购活动解释权44第四章评标方法及标准45一、资格性审查45二、评标46附表一符合性审查表48附表二商务评审表49附表三技术评审表50第五章合同草案文本52第六章投标文件格式57第七章附件86一、**采购投标(报价)担保函86二、制造商(或授权方)授权书88三、询问函格式89四、质疑函格式90五、投诉书格式92.章投标邀请函各(潜在)投标人广东金扬教育采购中心有限公司受广东工业大学的委托,对广东工业大学熔融指数仪及倒置金相显微镜等设备采购项目进行国内公开招标采购,欢迎符合资格条件的投标人参与投标。显微镜以显微原理进行分类可分为偏光显微镜、光学显微镜与电子显微镜和数码显微镜。台州正规显微镜厂家
常用于生物、医药及微小粒子的观测。电子显微镜可把物体放大到200万倍。金华销售显微镜***的选择
测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。2.摩擦力显微镜摩擦力显微镜(LFM)是在原子力显微镜(AFM)表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来,而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1摩擦力显微镜扫描及力检测示意图图1示出了LFM扫描及检测的示意图。一般接触模式原子力显微镜(AFM)中,探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描(或样品在探针下扫描)。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器,由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值(A+B)-(C+D)得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定,也就是微悬臂形变量恒定,从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中,探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中,(A+C)-(B+D)这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减(增加摩擦力导致更大的扭转)。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。金华销售显微镜***的选择
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