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仪器名称:透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscope,TEM)仪器型号:100KV钨灯丝、六硼化镧,200KV场发射生产厂家:德国ZEISS,美国FEI,日本JEOL、HITACHI应用范围:(1)材料超微结构与性能的表征与分析,具体包括纳米材料和纳米结构、晶体结构与电子衍射、元素分析等;(2)组织、细胞、微生物等样品的超微结构观察。实例:1、细胞超微结构(需固定、包埋、超薄切片)2、纳米材料(碳纳米管)3、晶体材料的.辨像风险提示:丁香通*作为第三方平台,为商家信息发布提供平台空间。用户咨询产品时请注意保护个人信息及财产安全,合理判断,谨慎选购商品,商家和用户对交易行为负责。对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况。第二个是荷兰亚麻织品商人列文虎克(1632年-1723年),他自己学会了磨制透镜。金华多功能显微镜价格多少
接下来做镜筒,材料非常好找,就是平时我们用的卷筒纸中间那个硬纸筒,硬纸筒用作中间那节镜筒(废物利用,一举两得),下面那节物镜筒用厚纸卷几圈,尽量卷厚实一些,上面的目镜筒也是如此制作。制作完后记得一定要涂黑。为了美观,在外面可以贴上黑色的(当然,其它颜色也是可以的,比如木纹墙纸也很好看的)胶墙纸,贴之前先在硬纸筒外面用光洁平整的卡纸粘一圈,再贴墙纸,这样比较平整美观。接下来我们制作目镜,镜片用三块修钟表的5倍放大镜(8倍的更好,我这里只能买到5倍的),把镜片从套筒里面取出,按照前面一块,后面两块(靠近眼睛处)这样来组合,具体参数看图,这样就做成一个复合目镜,放大倍率大概在8倍左右。.把做好的物镜、镜筒、目镜总装,显微镜的主要部分完成了。此时用来观看是可以的了,问题是在大倍数下不可能拿得很稳,手上的一点点轻微抖动都会对观察对象造成很大的移动。这样是无法观察的,一个结实的底座在这个时候就显得非常重要。如图,显微镜的载物台,用一张废旧光盘来做,两面用截剪好的黑色音箱纸贴上,这样子美观不少。下面的支撑架用包装纸箱上的瓦楞纸来做,用胶水粘好后,同样用黑色音箱纸贴上,把原来的颜色遮住。如果想做得更结实。衢州直销显微镜找哪家各种元件的性能说明 (1) 相位板使直接光的相位移动 90°,并且吸收减弱光的强度。
测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。2.摩擦力显微镜摩擦力显微镜(LFM)是在原子力显微镜(AFM)表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来,而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1摩擦力显微镜扫描及力检测示意图图1示出了LFM扫描及检测的示意图。一般接触模式原子力显微镜(AFM)中,探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描(或样品在探针下扫描)。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器,由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值(A+B)-(C+D)得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定,也就是微悬臂形变量恒定,从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中,探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中,(A+C)-(B+D)这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减(增加摩擦力导致更大的扭转)。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。
它们各成像在分划板的a和a′点。在目镜中观察到的即为具有与被测表面一样的齿状亮带,通过目镜的分划板与测微器测出a点至a′点之间的距离n,被测表面的微观平面度h即为h=(1)式中:v—物镜放大倍数。四、9j光切法显微镜的结构仪器的结构如图示2(a)、图2(b)所示。基座(1)上装有立柱(2),显微镜的主体通过横臂(5)和立柱联结,转动手轮(3)将横臂(5)沿立柱(2)上下移动,进行显微镜粗调焦,而后用旋手(6)将横臂紧固在立柱上。显微镜的光学系统压缩在一个封闭的壳体(18)内,在壳上装有可替换的物镜组(13)(它们插在滑板上用手柄(12)借弹簧力固紧),测微目镜(11)、照明灯(7)及摄像装置的插座(10)等。微调手轮(4)用于显微镜的精细调焦。仪器的数码相机适配镜(9)装在插座(10)处(使用时需将防尘盖拿去),可与测微目镜(11)并用。摄像时,装上数码相机适配镜(9)及数码相机(8),此时将手轮(21)转向摄像部位即可进行摄像(数码相机和适配镜选购)。在仪器的坐标工作台(16)上,利用手轮(15)可对工件进行坐标测量与调整,松开旋手(14)并可作360°转动;对平面形工件,可直接放在工作台上进行测量;对圆柱形工件。这使得科学家能观察到像百万分之一毫米那样小的物体。1986年他被授予诺贝尔奖。
透射电子显微镜TEM透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成:l电子.:发射电子。由阴极,栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速和加压的作用。可脱离电脑主机**成像,操作方便,还可集成一些数码功能,如支持拍照,录像,或图像对比,测量等功能。江苏销售显微镜价位
其中对显微镜研制,微生物学有巨大贡献的人为列文虎克,荷兰籍。金华多功能显微镜价格多少
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