轨道交通地震试验

自然界非常具有破坏力的力量之一就是地震，当地震发生后可以对社会造成毁灭性的生命和财产损失。除了建筑物和结构，地震损坏的设备可能直接或间接地为人们或环境造成危害。基于对人们和设施的保护，在一定的时间及环境下可以进行模拟地震测试，主要为了检测产品的抗震性能对于使用的通信及涉及安全(如核控制方面等)的设备应当经过抗震性能检测。目前发生在世界上主要地区的地震均可以在上海天梯地震模拟实验中重现，而且我国规定在我国抗震设防烈度 7 度以上(含 7 度)地区的公用电信网上使用的服务器和网关设备，应通过抗地震性能检测，未通过的产品不得在工程中使用。地震测试需要使用什么设备？轨道交通地震试验

上海天梯检测技术有限公司地震试验目的： 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品地震的重要试验方法之一。 (1)高温试验 试验目的：用来考核试验样品在高温条件下贮存或使用的适应性。应用于比如像热带天气或炼钢厂等高温环境下工作的仪器、设备等。 试验设备：高低温(湿热)试验箱。 试验条件：一般选定一恒定的温度应力和保持时间。 推荐常用温度：200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等; 推荐常用的试验时间有：2h，16h，72h，96h等。GB/T 13625-2018地震试验常见的地震测试有哪些？

地震结构检测的标准： YD5083-2005《电信设备抗地震性能检测规范》 GR-63-CORE 《NEBSTM Requirement：Physical protection》 ETSI EN 300-019-2-3-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-3部分：环境测试规范；有气候保护的场所的固定应用》 ETSI EN 300-019-2-4-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-4部分：环境测试规范；无气候保护位置的固定应用》 NTT 《通信装置的耐震试验方法》 GB 50260-2013 《电力设施抗震设计规范》 HAFJ0053-1995《核电设备抗震鉴定试验指南》 GB/T 2424.25-2000 《电工电子产品环境试验 第3部分：试验导则 地震试验方法》

地震是什么呢？地震有哪些分类？人类怎样监测地震？地震来临时该怎么办？1976年7月28日 天地撼动的瞬间 里氏7.8级的唐山大地震 短短数秒之内，百年城市夷为墟土 转眼已是43年 当今世界，地震是非常具有破坏力的自然灾害。地震造成的损失严重除了是自然灾害的影响，也跟每个产品对于地震的抗震性不高，以及通信设备在这种环境中会失去作用有关系。地震测试可以检测使用的通信相关设备所具有的抗震性，对于抗震性达不到标准的产品，检测对应的数据，进行完善，有效的改善产品的质量。地震是电子设备的重要质量特性之一。

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级（外壳防护试验）： 外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 地震测试可以分为哪些呢？浦东新区GB/T 18207.2-2005地震

所有地震测试可以用一个产品么？轨道交通地震试验

上海天梯检测技术有限公司地震测试的目的： 地震发生时，通讯信号及电子产品都会被损害，提前对电子工业级及通讯设备的测试非常重要，其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。 首先，电子产品的复杂程度在不断增加。人们较早使用的矿石收音机是非常简单的，随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备，复杂程度不断地增长。其次，电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外，从热带到寒带，从陆地到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。 第三，电子产品的装置密度不断增加。从一代电子管产品进入第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高，散热条件恶化。轨道交通地震试验

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