GB/T 18207.2-2005地震实验室

上海天梯检测技术有限公司机械环境包含：振动试验（随机振动,正扫频振动,定频振动）,模拟汽输车运试验,碰撞试验,机械冲击试验（半正弦波,方波,后峰锯齿波）,跌落试验(1m和1.5m),G值跌落,滚筒跌落试验（0.5m和1m),斜面冲击试验,堆码压力试验,水平挤压试验,温湿度 振动三综合试验,高加速寿命试验（HALT）,高加速应力筛选（HASS,HASA）,插拔寿命试验（插拔力,拔出力）,钢球冲击试验,按键寿命试验,点划寿命试验,软压试验,摇摆试验,铅笔硬度测试,耐磨擦测试,附着力测试,百格测试等；地震试验测试的目的是什么？GB/T 18207.2-2005地震实验室

地震检测的范围包含： 交换类：电话交换设备、路由器、以太网交换机、HLR 传输类： SDH、WDM、MSTP、PTN、OTN、ASON数字微波通信设备、卫星地球站传输设备 电源类：高频开关电源、UPS、蓄电池、锂电池、高压直流240V/336V供电系统、交/直流配电柜 移动基站类：基站设备、直放站设备、基站控制器 接入类设备：ADSL/ADSL2+、VSAT、EPON 服务器和网关类设备：服务器、网关、BNAS、SIP、综合接入媒体网关设备、信令网关设备 通信设备及设施：集装箱数据中心、ICT机房设备等 各种电力设备、电工电子设备、核设备等GB/T 18207.2-2005地震实验室一般的地震测试项目包含哪些内容?

上海天梯检测技术有限公司振动测试： 系统整机振动测试标准 GBT2423.56 随机振动&包装振动 1.Test PSD1: 0.002G²/Hz, 1Grms for HDD 2.Test PSD2: 0.008G²/Hz, 2Grms for SSD 3.Test PSD3: 0.0147G²/Hz, 2.16Grms for package 4.Test Frequency: 5-500Hz 5.Test Axis: X, Y and Z axis 6.Test Time: 1Hr per axis GBT2423.10 正弦振动 1.Test Acceleration: 2G 2.Test Frequency: 5-500Hz 3.Displacement: 4.4mm(peak-to-peak) 4.Sweep velocity: 1 Oct/min 5.Test Axis: X, Y, Z three axes 6.Test Time: 1 hour per axis 上海天梯检测技术有限公司严格执行国家GBT2423.56法规以及国际通用的法规。

上海天梯检测——输入瞬态高压测试 PFC电路采用平均值电路进行过欠压保护，因此在输入瞬态高压时，PFC电路可能会很快实现保护，从而造成损坏，测试一次电源模块在瞬态情况下的稳定运行能力以评估地震。 测试方法： A、额定电压输入，用双踪示波器测试输入电压波形合过压保护信号，输入电压从限功率点加5V跳变为300V，从示波器上读出过压保护**00V的周期数N，作为以下试验的依据。 B、额定输入电压，电源模块带满载运行，在输入上叠加300V的电压跳变，叠加的周期数为（N－1），叠加频率为1次/30s，共运行3小时。上海地震测试建议咨询天梯检测！

HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品地震的测试手段，HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品地震试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外，许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动，高低温，温度循环，电力开关循环，电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段，能够及早地发现产品地震的薄弱环节。上海天梯带你认识地震测试。GB/T 18207.2-2005地震实验室

地震试验有哪些项目?GB/T 18207.2-2005地震实验室

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级（外壳防护试验）： 外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 GB/T 18207.2-2005地震实验室

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