ICT测试治具

功能测试治具和ICT测试治具的区别是什么你知道吗？制作原理不同，功能测试治具的主要考虑工件的定位、紧固以及如何实现功能测试；而ICT测试治具根据电路板的机械尺寸图，把电路板上面的DIP脚，测试点的位置打孔，然后插针，把电路板中的网络(NET)就是PCB走线，全部引出来，达到外部来用仪器测试其内部是电路结构即可。其实不管是功能测试治具还是ICT测试治具都是测试治具下的一个分类，使用他们的目的都是一样的，为了提高产品的质量和降低生产产品不良率。ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高。ICT测试治具

ICT测试点的要求：1.测试点的焊盘大小至少要有28mil，较好在35mil以上，建议设计为1mm。2.测点焊盘的中心间距至少为50mil，若能达到75mil或以上则可以降低治具成本。3.测试点不能被遮挡、覆盖，焊盘中心距离器件外框至少120mil。4.如果空间不允许测试点放到了SMD焊盘上，一般应放在焊盘的三分之一处，并保证不被贴片覆盖的测试点焊盘距离30mil以上。5.测试点距离板框必须在120mil以上，测试点外缘和定位孔外缘至少120mil以上。6.测试点是焊盘，直径为30-50mil或更大，测试点是孔，内径不超过15mil，盘径为40-50mil或更大。7.测试点较好放置在同面，可以减少测试成本。ICT测试治具ICT治具的优点：ICT对错误检查准确稳定，避免人员对故障的错误猜测。

功能测试治具和ICT测试治具的区别，我们知道测试治具是专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。根据测试功能的不同它又可分为钻孔工具、功能测试治具、ICT测试治具、过锡炉治具等测试治具，而由于功能测试治具和ICT测试治具应用场景的相近很多用户往往不知道它们的区别是什么，首先测试功能不同，功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，主要是对产品的功能进行测试的设备，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助治具；而ICT测试治具是对在线元器件的性能、原理及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。

ICT测试治具测试是如何读取时间的?ICT测试治具是一种具有检测功能的产品，能减少维修人员与目视人员的数量，降低技术要求，材料与资源的节省，很大降低生产成本。现在我们来介绍下ICT测试治具测试是如何读取时间的?详细内容如下：ICT测试治具可以直接对在线器件电气性能来进行测试，在测试的过程中可以发现产品的不良器件。从内存单元读取数据所需的时间，就是ICT测试治具的存储器读取时间，方法是这样的：1、往单元A写入数据"0"，单元B写入数据"1"，坚持READ为使能状态并读取单元A值。2、地址转换到单元B，实质上就是ICT测试治具丈量内存数据的坚持时间。3、转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。4、暂停时间--内存单元能保持它状态的时间。5、刷新时间--刷新内存的允许时间。6、建立时间--输入数据转换必需提前锁定输入时钟的时间。7、坚持时间--锁定输入时钟之后输入数据必需坚持的时间。8、写入恢复时间--写操作之后的能读取某一内存单元所必须等待的时间。选择ICT测试治具来进行测试处理能够在短短几秒内测出整块电路板的好坏，并告知您它坏在哪个区域及哪个零件，快速解决生产制成问题。ICT电阻测试：电阻是测试其阻值。

测试针带动ICT测试冶具的运行吗？随着信息技术时代的发展，而今信息化表示了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展，而且成为科技创新的中心力量。ICT市场前景广阔，那ICT测试治具来说吧：ICT测试冶具是整个ICT设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。测试针是ICT测试冶具中的重要零件之一，那么它主要起到了什么作用呢？1、增强耐用度：ICT测试冶具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。2、独有的一直不间断电接触设计：行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。3、至目标测点准确度误差更严谨：ICT测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点准确度。ICT测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使ICT和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列较高频率可达2000MHz。ICT测试治具能对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、断线等故障。ICT测试治具

ict检测自动在线测试仪，是现代电子企业必备的测试设备。ICT测试治具

ICT测试治具的一些测试，IC保护二极体，测试原理：利用IC各引脚对IC地脚或电源脚存在的保护二极体对IC引脚保护二极体进行测试。可测试出IC保护二极体是否完好，被测试IC是否极反，移位。IC空焊测试TESTJET测试原理：利用放置在治具上模的感测板压贴在待测的IC上，利用量测感测板的铜箔与IC脚框之间的电容量侦测接脚的开路。系统由测试点送一個200mV,10KHz的信号到IC的接脚上，信号经过ICframe与感测板之间的电容耦合到感测板上再经过架在感测板上的放大器接到64Channel的Signalconditioningcard做选择和放大信号的工作，较后接到系统的TestJetBoard去量测信号的强度。如果IC的接脚有开路情况系统会因侦测不到信号而得知其为开路。Testjet通常用来测试IC元件由于生产引起的缺陷:开路、错位、丢失。电解电容三端测试：测量电容外壳对电容正极和负极阻抗不同。其他零件测试：晶振测量其电容，变压器测量其电阻。ICT测试治具